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WP300-SP系列半自动晶圆探针台
CP300 系列探针台是用于300mm（12英寸）晶圆的半自 动测试，专为研发、器件表征/建模或利基生产应用而设计， 可在温度范围内对超低噪声、直流、射频、毫米波和太赫兹应 用进行精确电气测量，可自动化操作，最快的速度获得准确的 数据。 CP300半自动探针台提供实验室自动化功能和精密电气测 量器件特性，大批量工程和极具挑战性的应用程序。它也非常 适合在定制的解决方案，利于生产应用程序，和新兴市场。 CP300半自动探针台提供测量精度和可靠性一个完全模块 化的解决方案，无论是I-V/C-V，在半自动化系统中进行RTN 和RF测量，可以处理任何200毫米和300毫米晶圆的组合。
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